Instrument XRF portatif H500

Tout simplement le meilleur

Ø Votre analyseur de métaux portatif qui va n’importe où

Ø Analyse des éléments non destructifs avec rapports rapides et simples et génération de certificats

Ø Conception industrielle robuste pour presque toutes les conditions météorologiques, environnement de terrain

Ø Identification en temps réel et en alliage précis pour toutes les catégories de métaux, y compris

Ø Industries d’application larges

Contexte et introduction

L’analyseur portatif de fluorescence aux rayons X (XRF), parfois appelé pistolet XRF portatif, est utilisé pour analyser la composition chimique des matériaux. L’illumination par rayons X provoque la fluoration de chaque élément à une longueur d’onde caractéristique. En analysant le modèle et l’intensité des longueurs d’onde émises, les analyseurs XRF peuvent déterminer l’identité et la quantité d’éléments et de produits chimiques présents dans un échantillon. Les analyseurs XRF portatifs sont légers, nécessitant un tube à rayons X miniature et des détecteurs, mais permettant une utilisation sur place. Bien que cette technologie à petite échelle limite la sensibilité et la flexibilité, le matériel et les logiciels d’analyseur XRF portatifs peuvent être optimisés pour détecter des éléments spécifiques et compenser ces limitations. Avec un analyseur XRF portatif, les échantillons à n’importe quel endroit peuvent être testés en quelques secondes et sans aucun dommage. Les analyseurs XRF portatifs sont utilisés par les industries extractives, de transformation et de fabrication, ainsi que par les agences de sécurité. Les applications comprennent l’essai du plomb dans la peinture, le tri de la ferraille, l’évaluation des échantillons miniers, l’inspection des marchandises importées, la restauration de l’art et l’analyse de la qualité du sol et de l’eau.

fonctionnalités:

Analyse non destructive

Sensibilité maximale

Communication facile

Analyse rapide

Haute précision et précision

Spécifications techniques

Méthode analytique	Fluorescence des rayons X dispersive d’énergie
PDA avec écran tactile	Processeur: 1G, Mémoire système: 1G, standard 4G données de stockage de masse, support maximum stocké étendu jusqu’à 32G, Grand écran tactile LCD, résolution 1820x720
Analyse intelligente	Mode de test de sélection automatique basé sur la matrice de l’échantillon
Source d’excitation	50KV/200μA – Fenêtre d’extrémité Ag/Rh intégrée tube à rayons X miniature et alimentation à haute tension
Collimateur & Filtre	Collimateur et filtres multiples avec fonctions de commutation automatiques
Détecteur	Détecteur de dérive de silicium (DDD)
Résolution du détecteur	Jusqu’à 125eV
États échantillonnés	Solides, liquides, poudres
Gamme élémentaire	Nombres atomiques entre 12 (Mg) et 92 (U)
Limite de détection	1 – 500ppm, selon l’élément et la matrice d’échantillon
Temps d’analyse	3-60 secondes
Analyse simultanée	Affiche jusqu’à 40 éléments à la fois
Plage d’affichage	ppm - 99,99%
Système de vue d’échantillon	Caméra intégrée haute résolution
Connectivité	USB, GPS, Wi-Fi ou Bluetooth
Sécurité	Arrêt automatique du tube à rayons X, cadre d’instrument doublé de Pb, niveaux de rayonnement dans les normes internationales de sécurité
Alimentation	La batterie Li rechargeable, standard 9000mAh, fournit jusqu’à 12 heures de fonctionnement sur une seule charge; Adaptateur universel 110/220V pour la charge
Température	-20ºC à +50ºC
Humidité	≤90%
Poids	1,75 kg

Applications typiques:

Exploitation minière et minéraux

Métaux

Petrochemicals

Aliments

Matériaux de construction

Milieu universitaire

Pharmaceuticals

Environnement

Plastiques et polymères

Performance d’essai des échantillons minéraux d’étain

Modèle d’instrument : Analyseur XRF portatif H-500					Échantillon: Minéral d’étain
Temps d’essai:	30 secondes	Unité: %
Non. de Reading	Courbe d’étalonnage	Sn	Cu	Fe	Mo Mo
1	Minérale	49.3554	5.7654	56.0551	5.4208
2	Minérale	50.6876	5.6713	55.9913	5.5935
3	Minérale	50.3881	5.7493	56.0739	5.3518
4	Minérale	49.8010	5.7727	56.1811	5.4086
5	Minérale	49.8032	5.6791	55.8322	5.3257
6	Minérale	49.9043	5.7250	56.0807	5.4958
7	Minérale	50.5025	5.6975	55.7652	5.4550
8	Minérale	48.4144	5.7198	55.7945	5.4728
9	Minérale	50.4025	5.7634	56.0962	5.4033
10	Minérale	49.5978	5.7385	56.3685	5.4228
Moyenne		49.886	5.728	56.024	5.435
Déviation type Sn		0.6738	0.0362	0.1864	0.0757
Rsd		1.351%	0.633%	0.333%	1.393%

Performance d’essai de l’acier inoxydable-316

Modèle d’instrument : Analyseur XRF portatif H-500					Échantillon:	Acier inoxydable 316
Temps d’essai:	30 secondes
Non. de Reading	Courbe d’étalonnage	Cr %	Mn %	Fe %	Ni %	Cu %	Mo %
1	Acier en alliage élevé	16.648	0.878	69.346	10.121	0.309	1.987
2	Acier en alliage élevé	16.688	0.849	69.356	10.100	0.325	1.983
3	Acier en alliage élevé	16.642	0.872	69.435	10.061	0.315	1.991
4	Acier en alliage élevé	16.679	0.918	69.276	10.102	0.311	1.975
5	Acier en alliage élevé	16.611	0.899	69.266	10.196	0.305	1.984
6	Acier en alliage élevé	16.652	0.888	69.422	10.021	0.304	1.996
7	Acier en alliage élevé	16.722	0.865	69.305	10.098	0.318	1.975
8	Acier en alliage élevé	16.702	0.836	69.438	10.037	0.313	1.988
9	Acier en alliage élevé	16.629	0.876	69.382	10.076	0.312	1.963
10	Acier en alliage élevé	16.642	0.864	69.388	10.117	0.302	1.974
Gammes		0.111	0.082	0.172	0.175	0.023	0.032
Moyenne		16.662	0.874	69.361	10.093	0.311	1.982
Déviation type Sn		0.0349	0.0236	0.0633	0.0492	0.0071	0.0096
Rsd		0.209%	2.694%	0.091%	0.488%	2.276%	0.486%

Qu’est-ce que XRF?

Le principe de base du spectromètre de fluorescence des rayons X (XRF) est l’interaction des photons à rayons X à partir d’une source d’excitation distincte avec les atomes des éléments d’intérêt trouvés dans l’échantillon. Lorsque ces photons d’excitation rayonnaient avec les atomes de l’échantillon, les photons provoquent l’éjection d’électrons en orbite interne. Les électrons de l’orbite externe tombent alors automatiquement dans ces postes vacants. Ces transitions entraînent l’émission de rayons X caractéristiques liées à l’élément. L’énergie de la radiographie caractéristique est égale aux différences énergétiques des deux coquilles d’électrons impliquées dans la transition. Parce que les énergies de liaison électronique sont une fonction du nombre atomique, l’énergie de la radiographie est unique à chaque élément. Le nombre ou l’intensité des rayons X produits à une énergie donnée fournit une mesure de la quantité de l’élément présent par rapport aux normes.

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S’assure que votre analyseur produit le bon résultat année après année

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Gardez le système en marche toujours avec le dernier programme de version

>Consumables et accessoires

De la préparation de l’échantillon aux normes d’étalonnage.

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